膜厚監測儀 SQM160是利用INFICON石英晶體傳感技術在鍍膜過程中測量沉積速率和膜厚的精密儀器，標準型有兩路傳感器輸入，同時，4路傳感器輸入可選，具體視用戶實際應用而定；雙輸出可以向操作者提供直觀的模擬沉積速率及膜厚信號。

石英晶體監測儀 更小的尺寸、更低的成本，擁有傳統QCM的完全一樣的性能。 在測量薄膜沉積速率和膜層厚度中，INFICON新型的Q-podTM傳感器是一種外觀小巧，成本低廉，測量準確的解決方案。